心血管置入式電子設備相關感染危險因素回顧性分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目的:自20世紀60年代以來,心血管置入式電子設備(CIED。the cardiovascular implantable electronic device)成為目前心血管內科治療相關疾病的常規(guī)設備之一,CIED相關感染是(CIED-I,the cardiovascular implantable electronic device related infection)術后嚴重的并發(fā)癥。為了研究CIED-I相關危險因素,總結有效的預防

2、措施,為今后臨床實踐提供借鑒。
  方法與結果:通過回顧性調查2009年元月1日起6年內在該醫(yī)院心內科心導管室行CIED置入或更換的患者,經(jīng)嚴格按照納入排除標準共納入CIED相關574例手術人次,并統(tǒng)計了每例發(fā)生感染患者的基本特征、基礎疾病、術中及術后用藥、術后并發(fā)癥等信息,所得統(tǒng)計結果通過logistic回歸分析,逐步回歸納入研究變量,通過Wald檢驗,0.05為檢驗水準,共篩選出3個暴露因素納入logistic回歸模型,并解釋

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