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文檔簡介
1、隨著MEMS陀螺大規(guī)模量產(chǎn),其成本越來越低,但是與陀螺性能相關(guān)的測試周期比較長,這使得陀螺的測試成本較高,從而增加了陀螺的相對成本,為MEMS陀螺的推廣帶來不便。為此本文設(shè)計(jì)了一套微機(jī)械陀螺自動(dòng)化測試系統(tǒng),提高了陀螺的測試效率,降低了測試成本。
針對微機(jī)械陀螺批量測試的問題,設(shè)計(jì)了多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),采用FPGA作為系統(tǒng)的控制芯片,對64路微機(jī)械陀螺進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,并通過USB接口與上位機(jī)進(jìn)行通信。
針對批量微機(jī)械陀螺快
2、速安裝時(shí)引起的安裝誤差較大的問題,通過對陀螺標(biāo)度因數(shù)和安裝誤差的解耦測試原理和陀螺坐標(biāo)系三軸分別激勵(lì)測試原理分析,設(shè)計(jì)了標(biāo)度因數(shù)和安裝誤差角的測試方法,陀螺的安裝誤差角經(jīng)過補(bǔ)償后對標(biāo)度因數(shù)和零偏測試的影響可以降到很小。
針對標(biāo)度因數(shù)溫度系數(shù)和零偏溫度系數(shù)傳統(tǒng)測試方法的缺點(diǎn),改進(jìn)了測試方法,減小了溫度測試間隔,提高了標(biāo)度因數(shù)溫度系數(shù)和零偏溫度系數(shù)的準(zhǔn)確性。雖然總的測試時(shí)間會(huì)增加,由于陀螺進(jìn)行的是批量測試,陀螺相對測試成本也會(huì)降低
3、。另外,通過對陀螺按余弦函數(shù)變化的轉(zhuǎn)速進(jìn)行周期內(nèi)的互相關(guān)分析,設(shè)計(jì)了一種快速標(biāo)定陀螺標(biāo)度因數(shù)和零偏的方法,可以很大程度上縮短測試時(shí)間。
針對不同溫度下微機(jī)械陀螺的標(biāo)度因數(shù)、零偏變化較大的問題,首先分析了多項(xiàng)式擬合、BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、灰色預(yù)測模型三種補(bǔ)償算法的基本原理,然后利用補(bǔ)償算法對標(biāo)度因數(shù)、零偏進(jìn)行了溫度補(bǔ)償,減小了溫度變化對陀螺標(biāo)度因數(shù)、零偏的影響。
最后對微機(jī)械陀螺進(jìn)行測試試驗(yàn),通過對陀螺坐標(biāo)系三軸分別指天測試結(jié)
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