數(shù)字電路的位級并行ATPG研究.pdf

1、密級桂林電子科技大學碩士學位論文題目數(shù)字電路的位級并行ATPG研究（英文）（英文）AbitlevelParallelATPGResearchoftheDigitalCircuit研究生學號:122081803研究生姓名:秦李青指導教師姓名、職務指導教師姓名、職務:顏學龍教授申請學科門類:工學碩士學科、?？?、專業(yè):儀器科學與技術提交論文日期:2015年4月論文答辯日期:2015年6月摘要摘要隨著半導體存儲器工業(yè)技術、深亞微米工藝技術及芯片

2、生產工藝技術的快速發(fā)展，電路的工藝尺寸不斷減小，電路的集成度、復雜度與日俱增，使得高集成度電路的測試變得尤為困難。顯然傳統(tǒng)的測試生成算法對于目前的集成電路來說已經不再充分有效甚至適用，因此測試生成的研究具有十分重要的理論價值和實際意義，它的主要目的就是找到新穎、高效的測試生成算法。早在六十年代單固定型故障的測試生成問題就已經得到解決了。但是，理論分析證明，自動測試生成所涉及的問題及其相關的子問題幾乎都是NP完全問題，所以，加速測試生成，

3、提高測試生成質量一直是人們關注的問題。論文專注于組合電路中建立模型為單固定故障的測試向量生成。為了減小測試向量生成時間和提高故障覆蓋率的目的，重點研究了以下內容：數(shù)字電路測試的基本理論、故障模型及建模、測試向量質量的評價指標、可測性度量方法及自動測試向量生成的一些主要算法，尤其詳細介紹了一種確定性測試生成位級并行的自動測試向量生成算法—SWK測試生成算法，并將該算法與可測性測度結合起來，對該算法進行改進。在原型算法和改進型SWK測試生成