基于多目標進化算法的低功耗內(nèi)建自測試(BIST)設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路設計復雜性的提高,測試工作遇到越來越多的困難,此時可測性設計應運而生,并且成為解決測試問題的主要手段,其中尤以內(nèi)建自測試( Built-In Self-Test,BIST)技術為代表,在集成電路設計中得到廣泛的應用。但同時BIST也存在一些缺點,如偽隨機測試生成序列長、測試時間長、測試功耗過高等,都嚴重影響了測試效率。
　　針對這種情況,本文結合現(xiàn)有的低功耗技術,從減少測試矢量數(shù)量、提高測試矢量相關性即降低跳變率、降低

2、測試功耗以及保證故障覆蓋率等方面進行優(yōu)化設計,故本文提出了基于多目標進化算法優(yōu)化的低功耗BIST設計方案。該方案主要是設計加權細胞自動機(Cellular Automata,CA)作為BIST矢量產(chǎn)生器,利用多目標進化算法優(yōu)化的低跳變加權CA結構生成的測試序列,達到精簡測試集的效果,并且使測試序列的整體跳變有所減少;然后利用矢量插入式原理,在加權CA生成的矢量中插入若干中間矢量使最終測試集中的測試矢量間的局部跳變也減少,進一步減少功耗。

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