衛(wèi)星數字電視接收芯片低成本功能測試方案設計及實現.pdf

1、隨著衛(wèi)星數字電視技術的快速發(fā)展，衛(wèi)星數字機頂盒內部的芯片集成度和復雜度不斷提高，芯片的測試成本和測試難度不斷增加。信道接收芯片作為機頂盒中的關鍵芯片之一，其測試成本已經超過芯片自身的設計和制造成本。為了解決這個問題，研究該芯片的低成本測試方案已經變得尤為重要。
　　本文針對衛(wèi)星數字電視信道接收芯片低成本測試要求，通過研究某衛(wèi)星數字電視信道接收芯片的整體框架，分析該芯片的內部模塊的功能，并基于低端測試平臺T6575測試系統(tǒng)，設計并實

2、現該芯片功能測試的低成本方案，使之適應大生產的需要。
　　本論文的主要工作包括兩部分：
　　(1)首先根據該芯片的技術指標要求，設計合理測試方案，實現4顆待測器件(DeviceUnder Test，DUT)并行測試。主要技術是使用一個信號發(fā)生源通過分流器分成4路信號，分別輸入到4個調諧器中去產生中頻信號給4 DUT，輸出結果以向量文件的形式傳送給ATE，ATE同時發(fā)送DUT的時鐘和控制信號來讀取TS碼流作最終判斷。該技術方案

3、測試結果的處理可以自動化，可以在只使用一個信號源的情況下完成多個芯片的測試。缺點是還是需要昂貴的外部信號源。另外，由于測試方案的線路復雜、同步問題等，測試的穩(wěn)定性較難控制。
　　(2)改進使用ATE上的掃描圖形發(fā)生器(Scan Pattern Generator，SCPG)加上高速DAC IC來實現中頻信號的發(fā)生，作為信號發(fā)生源(Signal Generator，SG)，取代外加的專用SG，解決系統(tǒng)功能測試項目，實現低成本的測試要

4、求，從而降低測試成本。該技術的核心是利用T6575的SCPG存儲空間比較大的優(yōu)勢來發(fā)生未經過濾波的“數字中頻”信號，然后通過選擇ADI公司的ADV7123作為高速DA轉換器來實時轉換，實現對類似數字電視芯片的信號輸入。使用該技術方案可以實現輸入電路高抗噪，保證信號的純度。
　　最終的實際量產情況表明，本文所提出的測試方案是一種切實可行、經濟有效、具有生產價值的低成本測試方案。對同類的芯片量產測試，這種基于低端測試機臺的低成本測試方