存儲器測試技術及其在質量檢驗中的應用研究.pdf

1、電子元器件的質量特別是存儲器的質量直接關系到電子設備研制的可靠性水平。因此，在上機之前對所有的存儲器必須進行嚴格的測試和檢驗。但隨著超深亞微米等技術的應用使得電路的集成度日益增高，大規(guī)模數(shù)字集成電路的測試難度越來越大。隨著質量體系認證工作的日益深入開展，國內很多電子設備研制單位通常配備了成套數(shù)字集成電路及其它電子元器件的檢驗測試系統(tǒng)。但從國外引進的大型測試系統(tǒng)，往往缺乏針對入場質量檢測的測試程序及靈活的測試適配器。 論文主要針對

2、以上大型系統(tǒng)本身的缺陷，研究解決辦法。首先，介紹了集成電路主要是存儲器及測試技術發(fā)展現(xiàn)狀、趨勢。論述了存儲器的基本結構、分類、故障模式以及其測試基本原理。然后，研究分析了產(chǎn)生存儲器測試圖形的各種測試生成算法，包括齊步法、跳步法、行列走步法等。這些測試算法，復雜程度不同，故障覆蓋率也不同，在實際應用中可以適當選取。 此外，還對BIST測試技術在存儲器測試中的應用進行了探討。存儲器特別是嵌入式DRAM的傳統(tǒng)方法和BIST測試完全不一

3、樣，BIST測試方法將成為不僅是存儲器而是整個集成電路的主流測試技術。因為，隨著微電子工藝和技術以及通信技術的發(fā)展，特別是半導體存儲器、中央微處理器、數(shù)字信號處理器和可編程邏輯器件的需求量越來越大，性能要求也越來越高。但是，隨著系統(tǒng)芯片的日益普及，測試成本正呈現(xiàn)出增加的趨勢。為了保持較低的測試成本，未來的測試將會是完全BIST，它已經(jīng)在存儲器測試、通信系統(tǒng)測試等方面與掃描測試結合并成功應用，它的優(yōu)勢已經(jīng)突顯出來?；贐IST的測試技術的

4、發(fā)展和完善是VLSI制造業(yè)面臨的一項重要課題。 最后，針對現(xiàn)有測試系統(tǒng)在質量檢驗測試中的不足，我們結合測試理論研究，探討解決方案，并把測試理論應用到已有的存儲器測試系統(tǒng)中，進行測試程序開發(fā)，并設計開發(fā)了大量測試適配器，解決了工程應用急需的各種存儲器質量檢驗測試難題。 經(jīng)過實驗對比與驗證，經(jīng)重新開發(fā)設計的測試適配器以及開發(fā)的測試程序達到了預定目標，解決了工程應用中的難題，取得良好的科研與經(jīng)濟效益，受到某部項目驗收組的充分肯