原子力顯微鏡技術及其在分子結構形態(tài)學方面的應用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、原子力顯微鏡自1986年問世以來，經過十多年的技術改進和應用研究，憑借其納米量級的精度和不受樣品表面導電性限制的優(yōu)勢奠定了它作為一種獨立的表面分析儀器的地位，促進了納米科技領域七大分支的高速發(fā)展，尤其在生物學、生命科學和材料學方面的應用研究獲得了較高的科研價值，為這些原來的瓶頸專業(yè)開創(chuàng)了巨大的發(fā)展空間。 本次論文工作首先簡述了原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy，AFM)的發(fā)展歷程;從理論上探討了AFM的

2、工作機理；并針對重慶大學研制的AFM.IPC- 208B型機進行了整機系統(tǒng)的深入了解，其靈敏的反饋回路和納米量級的進給系統(tǒng)確保了整機穩(wěn)定的工作狀態(tài)；本論文課題任務則更側重于探討實驗操作過程中影響檢測結果的重要因素及其在納米材料學領域的應用，尤其是小分子微觀結構的觀測研究，對部分已作的微觀結構研究進行了較為詳盡的敘述和探討。 在論文的最后對實驗研究過程中遇到的問題進行了深入的思考，不僅從理論上給予了解釋，而且針對儀器本身存在的一些

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