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文檔簡介
1、近年來應用于照明市場的白光LED的研制水平不斷提高,同時應用對其可靠性也提出了更高的要求。由于LED的光衰現象是半導體照明領域內的一個較為突出的問題,所以它已成為業(yè)內關注的熱點之一。本文對大功率LED的光衰從LED的電學特性、光通量變化、發(fā)射光譜和熒光粉激發(fā)光譜等方面進行了實驗研究。 實驗表明LED的伏安特性在老化過程中有明顯的變化,這是由于p-n結在退化過程中產生的新缺陷和歐姆接觸的老化引起了串聯電阻的增加。光通量的衰減包含p
2、-n結激發(fā)光的衰減和熒光粉轉換效率的衰減,一般情況下,激發(fā)光的衰減對總光通量的衰減起重要作用。310mA到390mA的電流范圍內,工作電流對LED(標準電流為340mA)的光衰影響不大。老化過程中,LED的激發(fā)峰值(450nm)會有緩慢的紅移,熒光粉轉換的黃光部分所占比例會下降。以540nm作為監(jiān)測光譜,發(fā)現熒光粉存在兩個激發(fā)峰,老化后,位于紫外的激發(fā)峰消失。 根據不同批次的光衰實驗發(fā)現,由于管芯、工藝和工作溫度的不同導致兩批L
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