集成電路多故障測試生成算法及可測性設計的研究.pdf

1、集成電路被稱為IC，是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊，它是電子設備中最重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。集成電路的應用范圍覆蓋了軍工、民用幾乎所有的電子設備，可以說集成電路是計算機業(yè)、數(shù)字家電業(yè)、通信等行業(yè)的“心臟”。隨著微電子技術的發(fā)展，集成電路的規(guī)模越來越大，結(jié)構(gòu)越來越復雜，傳統(tǒng)的測試生成算法已不能滿足要求，因此集成電路測試研究的重點主要集中在研究新的更加有效的測試生成算法和電路的可測性設計技術上。

2、本論文主要研究數(shù)字集成電路的多故障測試生成算法及可測性設計技術，以提高算法的故障覆蓋率、減少測試生成時間及減少測試矢量的產(chǎn)生和施加為研究目標，重點研究了以下內(nèi)容： 研究了基于布爾差分的組合電路測試生成算法，針對布爾差分算法需要進行大量的異或運算，提出了可不用異或運算，而是通過求解恒等式及約束條件來得到完全測試集的方法，此方法避免了大量的布爾差分運算。 研究了多固定型故障的測試生成算法，該方法是將多固定型故障轉(zhuǎn)化為單固定型

3、故障來處理的。當目標故障數(shù)為n時，至多需插入2+3個門就可以將此多固定型故障轉(zhuǎn)化為單固定型故障。轉(zhuǎn)換前后的電路在功能上是等價，故障狀態(tài)也是等價的。 研究了基于結(jié)構(gòu)的組合電路多故障測試生成算法——因果函數(shù)分析法，該方法主要面向電路的結(jié)構(gòu)，一次性的計算即可找到檢測全部電路的測試矢量。 研究了九值算法及其改進算法在時序電路中的應用，它比一般的D算法在作D驅(qū)趕時要減少很多次無用的計算，此算法充分考慮了故障在重復陣列模型中的重復影

4、響作用，大大減少了計算的工作量。 研究了基于Reed-Muller模式的組合電路的可測性設計方法，該方法采用通用型測試集對電路結(jié)構(gòu)或模塊進行設計，用此種方法設計的電路不但可以方便的檢測出單固定型故障，而且可以確定故障的具體位置，對于雙固定型故障以及多固定型故障也可用此方法檢測出來。 針對癥候群測試不需要產(chǎn)生測試矢量的情況，對電路的癥候群測試進行了深入研究。傳統(tǒng)的癥候群可測性判定條件需要寫出電路的邏輯表達式，對于大規(guī)模集成